*Praktikum iz vrstičnega elektronskega mikroskopa

• Spoznati študente z osnovami vrstične elektronske mikroskopije in z njo povezanih tehnik (EDX, CL)
• Izvesti nekaj izbranih študij primerov
• Pridobiti praktične izkušnje za samostojno delo pri pripravi vzorcev, nastaviti aparature, izvedbi meritve z uporabo različnih signalov (sekundarnih in povratno sipanih elektronov, EDX), analizi in interpretaciji rezultatov ter pripravi poročila.

/

1. Uvod v vrstično elektronsko mikroskopijo: tipični vzorci za meritve, naprava
2. Interakcija med curkom elektronov in vzorcem: nastanek sekundarnih in povratno sipanih elektronov ter fotonov v rentgentskem in vidnem delu spektra
3. Priprava vzorca: osnovni postopki in demonstracijsi prikaz v laboratoriju
4. Uporaba mikroskopa: nameščanje vzorca, zagon mikroskopa, poravnava curka, kriteriji za izbiro primernih parametrov meritve, varnost pri delu
5. Določanje morfologija površine s sekundarnimi elektroni
6. Določanje topografije površine z uporabo elementnega kontrasta, ki ga omogočajo povratno sipani elektroni
7. Energijsko-disperzijska rentgenska spektroskopija (EDX): princip delovanja,kvalitativno in kvantitativno mapiranje in spektroskopija
8. Katodoluminiscenčna spektroskopija (CL): principi delovanja in nekaj študij primerov
9. Analiza podatkov in priprava poročila

Znanje in razumevanje:
• Osnovno znanje o vrstični elektronski mikroskopiji in z njo povezanimi analiznimi tehnikami (EDX, CL), o principu delovanja mikroskopa, analizi podatkov, interpretaciji in podajanju rezultatov

Praktična znanja:
• Ob koncu predmeta lahko študent samostojno načrtuje in izvede meritev (pripravi vzorec ter določi njegovo morfološko in elementno analizo na osnovnem nivoju)

• J. Goldstein et al., Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Kluwer Academic / Plenum Publisher (New York) 2003 Katalog E-gradivo
• Izbrani članki

• Praktična izvedba meritve vzorca • Pisno poročilo z rezultati analize Ustni izpit

Izredni profesor s področja fizike na Univerzi v Novi Gorici.

1. EMIN, Saim, ABDI, Fatwa F. Abdi, FANETTI, Mattia, PENG, Wei, SMITH, W., SIVULA, K., DAM, Bernard, VALANT, Matjaž. A novel approach for the preparation of textured CuO thin films from electrodeposited CuCl and CuBr. Journal of electroanalytical chemistry, ISSN 1572-6657, 2014, vol. 717-718, str. 243-249, doi: 10.1016/j.jelechem.2014.01.038. [COBISS.SI-ID 3243515]
2. LISJAK, Darja, OVTAR, Simona, KOVAČ, Janez, GREGORATTI, Luca, ALEMAN, Belen, AMATI, Matteo, FANETTI, Mattia, MAKOVEC, Darko. A surface-chemistry study of barium ferrite nanoplates with DBSa-modified surfaces. Applied Surface Science, ISSN 0169-4332. [Print ed.], 2014, vol. 305, str. 366-374, doi: 10.1016/j.apsusc.2014.03.092. [COBISS.SI-ID 27593511] 
3. FANETTI, Mattia, AMBROSINI, Stefano, AMATI, Matteo, GREGORATTI, Luca, ABYANEH, M. K., FRANCIOSI, A., CHIA, A. C. E., LAPIERRE, R. R., RUBINI, Silvia. Monitoring the Fermi-level position within the bandgap on a single nanowire : a tool for local investigations of doping. Journal of applied physics, ISSN 0021-8979, 2013, vol. 114, no. 15, str. 154308-1-154308-9, doi:10.1063/1.4826198. [COBISS.SI-ID 3196411] 
4. FANETTI, Mattia, et al. Structure and molecule : substrate interaction in a Co-octaethyl porphyrin monolayer on the Ag(110) surface. The journal of physical chemistry. C, Nanomaterials and interfaces, ISSN 1932-7447, 2011, vol. 115, no. 23, str. 11560-11568. [COBISS.SI-ID 2254843] 
5. BALOG, Richard, FANETTI, Mattia, et al. Bandgap opening in graphene induced by patterned hydrogen adsorption. Nature materials, ISSN 1476-1122, 2010, vol. 9, no. 4, str. 315-319. [COBISS.SI-ID 2261243]