Rentgenska difrakcija - pogoji dostopa

XRD

Oprema: Napredni rentgenski difraktometer SmartLab SE

Kontakt: doc. dr. Andraž Mavrič (andraz.mavric@ung.si)

Izvor svetlobe: Cu anoda 2,2 kW (valovna dolžina CuKα1 = 1,5406 Å)

Detektor: 1D polprevodniški detektor D/teX Ultra 250

  • Meritve praškastih vzorcev:
    • Standardna Bragg-Bretano geometrija
    • Geometrija s paralelnim žarkom
    • Meritve z visokotemperaturnim nastavkom (DHS1100 Anton Paar)
  • Meritve tankih filmov:
    • Standardna Bragg-Bretano geometrija
    • Geometrija s paralelnim žarkom
    • Meritve z nizkim kotom vpadnega žarka (grazing incidence diffraction - GID)
    • Odboj x-žarkov (X-ray reflectivity - XRR)
    • Meritve z visokotemperaturnim nastavkom (DHS1100 Anton Paar)
    • Analiza orientacije kristalitov (Pole figure)
    • Analiza preferenčne orientacije (Rocking curve)
    • Analiza epitaksialnih filmov (Reciprocal space mapping)
  • Sipanje rentgenskih žarkov pri nizkih kotih (SAXS)

Dostop: Za dostop do opreme kontaktirajte Andraža Mavriča (andraz.mavric@ung.si) z opisom predvidenega eksperimenta. Minimalen čas dostopa 1 ura. Po odobritvi eksperimenta se dostop praviloma uredi v roku enega tedna.


Rentgen za praškovno difrakcijo Rigaku MiniFlex 600 z D/tex Ultra detektorjem

3_miniflex